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1、鍍層厚度的測試方法有哪些？

鍍層是指為了好看或儲藏而涂在某些物品上的金屬表面涂上一層塑料，或者一層稀薄的金屬或為仿造某種貴重金屬，在普通金屬的表面鍍上這種貴重金屬的薄層。復合鍍層的制備是在鍍液中加入一種或數種不溶性固體顆粒,使固體顆粒與金屬離子共沉積的過(guò)程,它實(shí)際上是一種金屬基復合材料。

鍍層厚度測試檢測材料表面的金屬和氧化物覆層的厚度測試。鍍層厚度的測試方法主要有金相法、X射線(xiàn)熒光法和掃描電鏡測試法等。

2、鍍層厚度的測試標準有哪些？

GB/T 6462-2005金屬和氧化物覆蓋層 厚度測量 顯微鏡法

GB/T 16921-2005金屬覆蓋層 覆蓋層厚度測量 X射線(xiàn)光譜法

ASTM B487-85(2013) 用橫斷面顯微觀(guān)察法測定金屬及氧化層厚度的試驗方法

ASTM B568-98（2014）用X射線(xiàn)光譜法測量涂層厚度的標準試驗方法

ASTM A754/A754M-18用X射線(xiàn)熒光法測定金屬涂層在鋼上的重量(質(zhì)量)的標準試驗方法

ASTM B748-90(2016)用掃描電鏡測量金屬鍍層厚度的標準試驗方法

ISO 1463-2003金屬和氧化物覆蓋層 覆蓋層厚度的測定 顯微鏡法

ISO 3497-2000 金屬覆蓋層 鍍層厚度的測量 X射線(xiàn)光譜法

DIN EN ISO 3497-2001金屬鍍層 鍍層厚度測量 X射線(xiàn)光譜測定法

JIS H8501-1999金屬覆層厚度試驗方法

AS 2331.1.1-2001金屬及相關(guān)涂層的試驗方法 局部厚度試驗 橫截面顯微照相檢驗

3、鍍層厚度的測試要點(diǎn)總結

（1）GB/T 6462-2005金屬和氧化物覆蓋層 厚度測量 顯微鏡法

適用范圍：本標準規定了運用光學(xué)顯微鏡檢測橫斷面，以測量金屬覆蓋層、氧化膜層和釉瓷或玻璃搪瓷覆蓋層的局部厚度的方法。

試驗原理：從待測件上切割一塊試樣，鑲嵌后，采用適當的技術(shù)對橫截面進(jìn)行研磨、拋光和浸蝕。用校正過(guò)的標尺測量覆蓋層橫斷面的厚度。

影響測量不確定度的因素有：表面粗糙度、橫斷面的斜度、覆蓋層變形、覆蓋層邊緣倒角、附加鍍層、浸蝕、遮蓋、放大率、載物臺測微計的校正、測微計目鏡的校正、對位、放大率的一致性、透鏡的質(zhì)量、目鏡的方位、鏡筒的長(cháng)度

橫斷面的制備：a）橫斷面垂直于覆蓋層；b）橫斷面表面平整，其圖像的整個(gè)寬度應在測量時(shí)所取的放大率下同時(shí)聚焦；c）由于切割和制備橫斷面所引起的變形材質(zhì)要去掉；d）覆蓋層橫斷面上的界面線(xiàn)僅由外觀(guān)反差就能明顯地確定或由一條易于分辨的細線(xiàn)確定。

測量：1）注意各影響因素；2）校準顯微鏡及測量裝置；3）測量覆蓋層橫斷面圖像寬度時(shí)，沿顯微斷面長(cháng)度至少去五點(diǎn)測量

測試結果說(shuō)明：1）所取橫斷面上待測試樣上的位置；2）每點(diǎn)測量得厚度，以微米計；橫斷面上測量點(diǎn)分布的長(cháng)度；3）局部厚度，即厚度測量值的算術(shù)平均值

（2）GB/T 16921-2005金屬覆蓋層 覆蓋層厚度測量 X射線(xiàn)光譜法

適用范圍：本標準規定了應用X射線(xiàn)光譜方法測量金屬覆蓋層厚度的方法。本標準所用的測量方法基本屬于測定單位面積質(zhì)量的一種方法。如果已知覆蓋層材料的密度，則測量結果也可用覆蓋層的線(xiàn)性厚度表示。本測量方法可同時(shí)測量三層覆蓋層體系，或同時(shí)測量三層組分的厚度和成分。給定覆蓋層材料的實(shí)際測量范圍主要取決于被分析的特征X射線(xiàn)熒光的能量以及所允許的測量不確定度，而且因所用儀器設備和操作規程而不同。

試驗操作機理：覆蓋層單位面積質(zhì)量(若密度已知，則為覆蓋層線(xiàn)性厚度)和二次輻射強度之間存在一定的關(guān)系。對于任何實(shí)際的儀器系統，該關(guān)系首先由已知單位面積質(zhì)量的覆蓋層校正標準塊校正確定。若覆蓋層材料的密度已知，同時(shí)又給出實(shí)際的密度，則這樣的標準塊就能給出覆蓋層線(xiàn)性厚度。熒光強度是元素原子序數的函數，如果表面覆蓋層、中間覆蓋層(如果存在)以及基體是由不同元素組成或一個(gè)覆蓋層由不止一個(gè)無(wú)素組成，則這些元素會(huì )產(chǎn)生各自的輻射特征。可調節適當的檢測器系統以選擇一個(gè)或多個(gè)能帶，使此設備既能測量表面覆蓋層又能同時(shí)測量表面覆蓋層和一些中間覆蓋層的厚度和組成。

厚度測量：1）發(fā)射方法：若測量覆蓋層的特征輻射強度，則在達到飽和厚度前，此強度將隨厚度的增加面增加，見(jiàn)圖1a)。使用X射線(xiàn)發(fā)射方法時(shí)，將儀器調到接收選定的覆蓋層材料的特征能量帶，這樣，薄覆蓋層產(chǎn)生低強度而厚覆蓋層產(chǎn)生高強度。2）吸收方法：若測能基體的特征輻射強度，則此強度隨厚度增加而減小，見(jiàn)圖1b)。X射線(xiàn)吸收方法利用基體材料的特征能帶。這樣，薄覆蓋層產(chǎn)生高強度而厚覆蓋層產(chǎn)生低強度。在實(shí)際運用時(shí)，要注意確保不存在中間層。吸收特怔與發(fā)射特征反向相似。3）比率方法，當覆蓋層厚度用基體和覆蓋材料各自的強度比表示時(shí)，則可能使X射線(xiàn)吸收方法和發(fā)射方法結合。這種強度比率方法的測量基本同試樣和檢測器之間的距離無(wú)關(guān)。

影響結果的因素有：計數統計、校正標準塊、覆蓋層厚度、測量面尺寸、覆蓋層組成、覆蓋層密度、基體成分、基體厚度、表面清潔度、中間覆蓋層、試樣曲率、激發(fā)能量和激發(fā)強度、檢測器、輻射程、計數率轉換為單位面積質(zhì)量或厚度、試樣表面的傾斜度

試驗結果表示：強度值（計數率）向單位面積質(zhì)量或厚度的轉換。使用適當的校準標準繪制類(lèi)似于圖1的曲線(xiàn)。除非另有規定，單位面積質(zhì)量的結果用mg/cm²表示，厚度測量結果用μm表示。

（3）ASTM B748-90(2016)用掃描電鏡測量金屬鍍層厚度的標準試驗方法

主要事項：1）可切取橫斷面；2）鍍層、基材顏色有區別才適用此方法；3）盡量考慮2um以上的鍍層測試