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1、什么是低溫測試？

低溫環(huán)境對材料及設備的主要影響有：1）使材料發(fā)硬變脆；2）潤滑劑粘度增加，流動(dòng)能力降低，潤滑作用減小；3）電子元器件性能發(fā)生變化；4）水冷凝結冰；5）密封件失效；6）材料收縮造成機械結構變化。低溫條件下試件的失效模式有：產(chǎn)品所使用零件、材料在低溫時(shí)可能發(fā)生龜裂、脆化、可動(dòng)部卡死、特性改變等現象。

低溫測試目的是檢驗試件能否在長(cháng)期的低溫環(huán)境中儲藏、操縱控制，是確定軍民用設備在低溫條件下儲存和工作的適應性及耐久性。低溫測試主要用于科研研究、醫療用品的保存、生物制品、遠洋制品、電子元件、化工材科等特殊材料的低溫實(shí)驗及儲存。

低溫測試包括溫度漸變的低溫試驗和在指定的恒定低溫范圍內進(jìn)行的低溫試驗，其主要應用領(lǐng)域有電工電子產(chǎn)品以及海洋儀器等。

2、低溫測試的標準有哪些？

GB/T 2423.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗A：低溫

GB/T 32065.2-2015海洋儀器環(huán)境試驗方法 第2部分：低溫試驗

IEC 60068-2-1-2007環(huán)境試驗.第2-1部分:試驗.試驗A：低溫

3、低溫測試的要點(diǎn)總結

（1）GB/T 2423.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗A：低溫

適用范圍：本部分規定的低溫試驗適用于非散熱和散熱試驗樣品。試驗Ab和試驗Ad與早期版本無(wú)實(shí)質(zhì)性的差異，增加試驗Ae的目的主要是檢測那些要求在整個(gè)試驗過(guò)程包括降溫調節期間都要通電運行的設備；本低溫試驗的目的僅限于用來(lái)確定元件、設備或其他產(chǎn)品在低溫環(huán)境下使用、運輸或貯存的能力；本低溫試驗不能用來(lái)評價(jià)試驗樣品耐溫度變化的能力和在溫度變化環(huán)境下的運行能力，在這種情況下，應采用GB/T 2423. 22。本低溫試驗方法細分為以下幾種：非散熱試驗樣品低溫試驗，試驗Ab，溫度漸變；散熱試驗樣品低溫試驗，

試驗Ad,溫度漸變和試驗Ae，溫度漸變，試驗樣品在整個(gè)試驗過(guò)程通電。本部分給出的試驗方法通常用于試驗期間能達到溫度穩定的試驗樣品。

1）試驗Ab：非散熱試驗樣品溫度漸變的低溫試驗，本試驗方法用來(lái)進(jìn)行非散熱試驗樣品的低溫試驗，試驗樣品在低溫條件下放置足夠長(cháng)時(shí)間以達到溫度穩定。

將試驗樣品放入溫度為試驗室溫度的試驗箱中，然后將溫度調節到符合相關(guān)規范規定的嚴酷等級溫度。當試驗樣品溫度達到穩定后，在該條件下暴露到規定的持續時(shí)間。對于試驗時(shí)需要通電運行的試驗樣品(即使它們不屬于散熱試驗樣品），應在試驗樣品溫度達到穩定后通電，根據需要進(jìn)行功能檢測。這種情況下，可能還需要一段時(shí)間達到溫度穩定，然后試驗樣品在該低溫條件下暴露到相關(guān)規范規定的持續時(shí)間。試驗樣品通常在非工作狀態(tài)下進(jìn)行試驗。本試驗通常采用高氣流速度循環(huán)。

2）試驗Ad：散熱試驗樣品溫度漸變的低溫試驗--試驗樣品在溫度開(kāi)始穩定后通電。本試驗方法用來(lái)進(jìn)行散熱試驗樣品的低溫試驗，試驗樣品在低溫條件下放置足夠長(cháng)時(shí)間以達到溫度溫度。

如果需要，可通過(guò)試驗確定試驗箱能否滿(mǎn)足低氣流速度的要求。將試驗樣品放入溫度為試驗室溫的試驗箱中，然后將溫度調節到符合相關(guān)規定的嚴酷等級溫度。給試驗樣品通電或加電負載，檢查試驗樣品以確定其功能是否符合相關(guān)規范的要求。試驗樣品應按照相關(guān)規范規定的工作循環(huán)和負載條件(如可行時(shí))處于運行狀態(tài)。當試驗樣品的溫度達到穩定后，在該條件下暴露到相關(guān)規范規定的持續時(shí)間。本試驗通常采用低氣流速度循環(huán)。

3）試驗Ae：散熱試驗樣品溫度漸變的低溫試驗--試驗樣品在整個(gè)試驗過(guò)程通電。本試驗方法用來(lái)進(jìn)行散熱試驗樣品的低溫試驗，試驗樣品在低溫條件下放置足夠長(cháng)時(shí)間以達到溫度穩定，并且要求試驗樣品在整個(gè)試驗過(guò)程中通電。

  如果需要，可通過(guò)試驗確定試驗箱能否滿(mǎn)足低氣流速度的要求。將試驗樣品放入溫度為試驗室溫度的試驗箱中，給試驗樣品通電并根據需要進(jìn)行功能檢測。然后將溫度調節到符合相關(guān)規范規定的嚴酷等級溫度。當試驗樣品的溫度達到穩定后，在該條件下暴露到規定的持續時(shí)間。本試驗通常采用低氣流速度循環(huán)。

試驗溫度：-65℃、-55℃、-50℃、-40℃、-33℃、-25℃、-20℃、-10℃、-5℃、+5℃

持續時(shí)間：2h、16h、72h、96h

試驗結果評定：對試驗樣品進(jìn)行目視檢查以及相關(guān)規范要求的性能檢測

（2）GB/T 32065.2-2015海洋儀器環(huán)境試驗方法 第2部分：低溫試驗

適用范圍：本部分規定了海洋儀器低溫試驗的試驗要求、試驗過(guò)程和相關(guān)信息；本部分用于考核或確定海洋儀器在低溫環(huán)境條件下使用的適應性，也可作為其零部件和組件的低溫環(huán)境試驗的參考。

試驗溫度：海洋儀器低溫試驗應從（-2±3）℃、（-10±3）℃、（-20±3）℃、（-55±3）℃和海洋儀器使用環(huán)境的最低溫度中選取。

試驗持續時(shí)間：試驗樣品達到溫度穩定后至少持續2h，或按相關(guān)規范進(jìn)行

試驗結果評定：對試驗樣品進(jìn)行外觀(guān)檢查、電性能、機械性能以及其他性能檢測，并與初始檢測數據進(jìn)行比較。