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《自然》《科學(xué)》一周(2.19-2.25)材料科學(xué)前沿要聞 發(fā)布時(shí)間:2018-02-27   瀏覽量:1950次

1. 源自多晶單層二硫化鉬的多端子型晶體管

(Multi-terminal memtransistors from polycrystalline monolayer molybdenum disulfide)

材料名稱(chēng):多晶單層二硫化鉬

研究團隊:美國西北大學(xué)Hersam研究組


憶阻器是開(kāi)發(fā)出來(lái)用于非易失性電阻式隨機存取存儲器的雙端無(wú)源電路元件,并且也可用于神經(jīng)形態(tài)計算。憶阻器比閃存具有更高的耐用性和更快的讀寫(xiě)速度,并且可以提供多位數據存儲。然而,盡管已經(jīng)證明了雙端憶阻器具有用作基礎神經(jīng)功能的能力,但人腦中的突觸超過(guò)了神經(jīng)元的千倍以上,這意味著(zhù)需要多端憶阻器來(lái)執行復雜功能,例如異質(zhì)突觸可塑性。先前的試圖超越雙端憶阻器(例如三端子 Widrow-Hoff 憶阻器和具有納米離子門(mén)或浮柵的場(chǎng)效應晶體管)在晶體管中沒(méi)有實(shí)現憶阻切換。Sangwan 等人報導了通過(guò)在可擴展制造工藝中使用多晶單層二硫化鉬(MoS2),實(shí)驗實(shí)現了多端混合憶阻器和晶體管(即,記憶晶體管)。二維 MoS2 晶體管在單個(gè)電阻狀態(tài)下的柵極可調性提高了四個(gè)數量級,并且開(kāi)關(guān)比大,循環(huán)耐久性高,且可以長(cháng)期保持狀態(tài)。除了長(cháng)期加強/抑制的常規神經(jīng)學(xué)習行為之外,六端 MoS2 記憶晶體管具有可調節柵極功能的異質(zhì)突觸功能,這是使用兩端憶阻器無(wú)法實(shí)現的。例如,通過(guò)將電壓脈沖施加到調制終端,一對浮動(dòng)電極(前突觸和后突觸神經(jīng)元)之間的電導變化可以達到約 10 倍。原位掃描探針顯微鏡、低溫電荷傳輸測量和器件模擬表明,偏置引起的 MoS2 缺陷的變化通過(guò)動(dòng)態(tài)改變 Schottky 勢壘高度驅動(dòng)了電阻切換。總體而言,將憶阻器和晶體管無(wú)縫集成到一個(gè)多端子器件中可以實(shí)現復雜的神經(jīng)形態(tài)學(xué)習以及二維材料中缺陷動(dòng)力學(xué)物理的研究。(Nature  DOI: 10.1038/nature25747) 


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2. 利用微諧振器孤子頻率梳實(shí)現的超快光學(xué)測距

(Ultrafast optical ranging using microresonator soliton frequency combs)

材料名稱(chēng):氮化硅微諧振器

研究團隊:德國卡爾斯魯厄理工學(xué)院(KIT)Koos和瑞士洛桑聯(lián)邦理工學(xué)院Kippenberg聯(lián)合研究組


光檢測和測距被廣泛使用在科學(xué)和工業(yè)中。在過(guò)去的十年中,光梳被證明具有光學(xué)測距的優(yōu)勢,使得能夠實(shí)現高精度的快速距離采集。在工業(yè)傳感、無(wú)人機導航或自動(dòng)駕駛等新興大量應用的推動(dòng)下,現在對緊湊型測距系統的需求日益增長(cháng)。Trocha 等人展示了在集成氮化硅微諧振器中生成孤子 Kerr 梳,這為高性能芯片尺寸測距系統提供了一條途徑。Trocha 等人演示了艾倫方差低至 12 納米的雙梳距離測量,即平均時(shí)間 13 微秒采集速率 100 兆赫下的超快測距,這使得能夠對以 150 米每秒移動(dòng)的飛行中的槍射彈進(jìn)行采樣。將集成的孤子梳測距系統與芯片級納米光子相控陣列相結合,可以為新興的大規模應用實(shí)現緊湊型超快測距系統。(Science  DOI: 10.1126/science.aao3924)


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3.基于納米結構范德華材料的紅外雙曲超表面

(Infrared hyperbolic metasurface based on nanostructured van der Waals materials)

材料名稱(chēng):納米結構范德華材料,如:六方氮化硼

研究團隊:西班牙Hillenbrand研究組


具有強各向異性光學(xué)性質(zhì)的超表面可以支持深度亞波長(cháng)尺度的受限電磁波(極化波),這為光子和光電子應用中的光控制提供了機會(huì )。Li 等人通過(guò)納米結構化六面體氮化硼的薄層開(kāi)發(fā)出中紅外雙曲超表面,該薄層支持深度亞波長(cháng)尺度的聲子極化激元,其與面內雙曲色散一起傳播。通過(guò)應用紅外納米成像技術(shù),可以看到發(fā)散極化聲子束的凹(不規則)波前,這正代表了雙曲極化聲子的標志性特征。這些結果闡明了近場(chǎng)顯微鏡如何應用于揭示各向異性材料中極化聲子的外來(lái)波前,并證明納米結構的范德華材料可以為雙曲紅外超表面器件和電路形成高度可變和緊湊的平臺。(Science DOI: 10.1126/science.aaq1704)


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4. 在硼上進(jìn)行的固氮和還原

(Nitrogen fixation and reduction at boron)

材料名稱(chēng):二配位亞硼基非金屬

研究團隊:德國B(niǎo)raunschweig研究組


目前,已知的在非基質(zhì)條件下支持二氮(N2)的固定和官能化的唯一化合物是基于金屬的。Légaré 等人介紹了通過(guò)一種非金屬(二配位亞硼基)實(shí)現的 N2 的結合和還原的觀(guān)察。在鉀石墨作為還原劑的反應條件下,N2 與兩個(gè)亞硼基單元的結合導致產(chǎn)生中性(B2N2)或雙陰離子([B2N2]2-)產(chǎn)物,其可通過(guò)進(jìn)一步分別暴露于還原劑或空氣實(shí)現相互變換。通過(guò) 15N 標記的二氮制備的中性和雙陰離子分子 15N 同位素體,可以允許通過(guò) 15N 核磁共振光譜觀(guān)察氮核。用蒸餾水進(jìn)行質(zhì)子化的雙陰離子化合物提供了具有中心肼基 B2N2H2 單元的雙自由基產(chǎn)物。所有三種產(chǎn)品都通過(guò)光譜學(xué)和晶體學(xué)進(jìn)行了表征。(Science  DOI: 10.1126/science.aaq1684)


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5. 通過(guò)獨立同軸硅納米線(xiàn)對神經(jīng)元活動(dòng)進(jìn)行光電化學(xué)調制

(Photoelectrochemical modulation of neuronal activity with free-standing coaxial silicon nanowires)

材料名稱(chēng):同軸硅納米線(xiàn)

研究團隊:美國芝加哥大學(xué)Bezanilla和Tian聯(lián)合研究組


調節細胞行為的光學(xué)方法對于基礎和臨床應用都是很有前景的。然而,大多數可用的方法或者是機械侵入性的、或是需要靶細胞的遺傳操作或是不能提供亞細胞特異性。Parameswaran 等人展示了利用獨立同軸 p 型/本征/n 型硅納米線(xiàn)進(jìn)行光學(xué)神經(jīng)調節從而解決所有這些問(wèn)題。Parameswaran 等人揭示了納米線(xiàn)表面是存在原子金的,可能是源于材料生長(cháng)期間的黃金擴散。為了評估表面金如何影響單個(gè)納米線(xiàn)的光電化學(xué)特性,使用了膜片鉗中的改性石英移液管,并記錄了單納米線(xiàn)的持續陰極光電流。最終表明,這些電流可以通過(guò)主要是由原子金增強的光電化學(xué)過(guò)程,引起原代大鼠背根神經(jīng)節神經(jīng)元的動(dòng)作電位。(Nature Nanotechnology  DOI: 10.1038/s41565-017-0041-7)  


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6. 范德華基底上單層 VSe2 中的強室溫鐵磁性

(Strong room-temperature ferromagnetism in VSe2 monolayers on van der Waals substrates)

材料名稱(chēng):?jiǎn)螌?VSe2

研究團隊:美國南佛羅里達大學(xué)Batzill研究組


與體材料相比,單層范德華材料中降低了的維數和層間耦合產(chǎn)生了從根本上不同的電子、光學(xué)和多體量子性質(zhì)。這種層相關(guān)性使得能夠在單層的方案中發(fā)現新的材料性質(zhì)。二維材料中的鐵磁有序是人們所渴望的性質(zhì),它將使得能夠對低維自旋行為進(jìn)行基礎研究,并促成新的自旋電子學(xué)應用。最近的研究表明,對于大塊鐵磁層狀材料 CrI3 和 Cr2Ge2Te6 ,鐵磁有序在低溫下保持在超薄的限制下。與這些觀(guān)測相反,Bonilla 等人報導了單層 VSe2 的強鐵磁有序的出現,VSe2 是一種在體材料情況下呈順磁性的材料。重要的是,具有大磁矩的鐵磁有序一直持續到室溫以上,使得 VSe2 成為范德華自旋電子學(xué)應用方面十分有吸引力的材料。(Nature Nanotechnology  DOI: 10.1038/s41565-018-0063-9)


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7. 對天然 Ia 型鉆石中片晶的原子結構和局部化學(xué)的成像

(Imaging the atomic structure and local chemistry of platelets in natural type Ia diamond)

材料名稱(chēng):天然 Ia 型鉆石

研究團隊:南非納爾遜·曼德拉大學(xué)Olivier研究組


在過(guò)去的幾十年中,有許多致力于表征 Ia 型鉆石中 {001} 片晶缺陷的努力。已知 N集中在缺陷的核心。但是對缺陷的原子結構和 N 在其中所起的作用仍沒(méi)有準確的描述。Olivier 等人通過(guò)使用球差校正透射電子顯微鏡和電子能量損失能譜,確定了天然 Ia 型金剛石中片晶缺陷內的原子排列,并將其與普遍的理論模型進(jìn)行了匹配。這種片晶具有各向異性的原子結構,沿著(zhù)缺陷線(xiàn)缺陷對呈現鋸齒形排列。從片晶核心獲得的碳 K-邊緣和氮 K-邊緣的電子能量損失近邊緣精細結構與間隙位點(diǎn)處的三角形結合排列一致。實(shí)驗觀(guān)測支持了天然鉆石中片晶缺陷的填隙原子聚集形成模式。(Nature Materials DOI: 10.1038/s41563-018-0024-6)  


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8. 歐姆空穴注入到高電離能有機半導體的通用策略

(Universal strategy for Ohmic hole injection into organic semiconductors with high ionization energies)

材料名稱(chēng):有機光電子器件

研究團隊:德國馬普所Wetzelaer研究組


無(wú)障礙(歐姆)觸點(diǎn)是高效有機光電子器件(如有機發(fā)光二極管,太陽(yáng)能電池和場(chǎng)效應晶體管)的關(guān)鍵需求。Kotadiya 等人提出一種在高電離能(IE)有機半導體上形成歐姆空穴接觸的簡(jiǎn)單且穩健的方法。通過(guò)使用比有機半導體具有更高 IE 的中間層,使得來(lái)自高功函數金屬氧化物電極的注入空穴電流提高了超過(guò)一個(gè)數量級。中間層的插入導致電極與半導體的靜電解耦以及費米能級與有機半導體 IE 的重排。構造歐姆接觸能夠用于多種材料組合,并解決高達 6 eV 的高 IE 有機半導體的空穴注入問(wèn)題。(Nature Materials  DOI: 10.1038/s41563-018-0022-8) 


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9. 膠體鹵化鉛鈣鈦礦納米晶體的形成、挑戰和機遇

(Genesis, challenges and opportunities for colloidal lead halide perovskite nanocrystals)

材料名稱(chēng):鹵化鉛鈣鈦礦

研究團隊:意大利理工學(xué)院Liberato Manna研究組


納米尺寸膠體晶體或納米晶體(NC)形式的鉛鹵化物鈣鈦礦(LHP),由于具有獨特的光學(xué)多功能性、高光致發(fā)光量子產(chǎn)率且容易合成,從而引起了各種材料科學(xué)家的關(guān)注。LHP NC 具有“軟”的主要離子晶格,并且它們的光學(xué)和電子性質(zhì)高度耐受結構缺陷和表面態(tài)。因此,利用與傳統半導體 NC 相同的實(shí)驗思維和理論框架是無(wú)法實(shí)現它們的。Akkerman 等人討論了 LHP NC 的歷史、當前的研究活動(dòng)、實(shí)際應用面臨的挑戰以及對相關(guān)的現在和未來(lái)解決策略的探索。(Nature Materials DOI: 10.1038/s41563-018-0018-4)


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隱石檢測擁有一批在業(yè)內取得顯著(zhù)成就的專(zhuān)業(yè)技術(shù)人員,在行業(yè)內有著(zhù)豐富的檢測經(jīng)驗。秉承著(zhù)專(zhuān)注、專(zhuān)業(yè)、高效、想客戶(hù)所想的理念,公司積極增加項目和完善更先進(jìn)的測試儀器設備,保障每一個(gè)檢測,分析,研發(fā)任務(wù)優(yōu)質(zhì)高效的完成。同時(shí)通過(guò)專(zhuān)業(yè)所長(cháng),為全球數萬(wàn)家優(yōu)質(zhì)客戶(hù)提供最及時(shí)的行業(yè)技術(shù)標準信息,和更高精尖的分析檢測解決方案。

  隱石檢測分別成立了閥門(mén)實(shí)驗室腐蝕實(shí)驗室金相實(shí)驗室力學(xué)實(shí)驗室無(wú)損實(shí)驗室耐候老化實(shí)驗室。從事常壓儲罐檢測鍋爐能效檢測金屬腐蝕檢測SSC應力腐蝕檢測HIC抗氫致開(kāi)裂檢測閥門(mén)檢測應力應變檢測無(wú)損探傷檢測機械設備檢測金相分析石墨烯納米材料檢測水質(zhì)檢測油品檢測涉及的服務(wù)范圍已廣泛覆蓋到鋼鐵材料,有色金屬材料,石油化工設備,通用機械設備,冶金礦石,建筑工程材料、航空航天材料,高鐵船舶材料,汽車(chē)用零部件、非金屬材料,電子電工產(chǎn)品等各個(gè)領(lǐng)域,并獲得了CMA和CNAS;雙重認可。

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